- IFB173
- M.H. Schulz: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität, 1988
Acronyms. 2013.
Acronyms. 2013.
IFB173 — M.H. Schulz: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität, 1988 … Acronyms von A bis Z